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        SMT先進研究分析手段

        發布時間:2016-09-26 08:06:39 分類:企業新聞

        摘要隨著smt新技術、新工藝、新材料、新器件的發展,針對這種應用趨勢外先進研究機構在開展細致分析、檢測方面做了許多工作,特別是投入巨額資金,組建了相應的分析實驗室,促進了新技術在smt領域中發展和應用,本文根據筆者搜集的資科匯總,較詳細介紹了此類實驗室設備或儀器的配置情況,供內smt同行參考并指正。
                關鍵詞 smt 實驗 分析 儀器 檢測
                當今smt應用技術及新器件、新材料發展迅速,尤其是近年來新型元器件,代表性的如BGA、chip-scale逐漸從實驗走向批量生產,一種新型元器件類型的出現往往引起新設計方法、新工藝、新設備的發展,在這個現象的后面隱藏了許多的幕后工作,即實驗室試驗及檢測分析。發達家的研究機構及高校在新技術推出、新材料發現、新型器件類型發展方面不惜組織大量的人力、投入巨額資金和時間組建多種類型的實驗室,做了相當細致的分折、研究工作,促進了smt新技術的應用和成熟發展。
        1 實驗分橋內容簡介
                 針對smt應用,相應的實驗分析內容都圍繞組裝質量和材料物質的可靠性進行,大致可以分為以下幾種:(在此不包括電測試范圍)
            u 表面特征;
            u 內部結構;
            u 應力及拉力;
            u 流體特性;
            u 環境影響。
                實驗室研究內容主要對新工藝開發、提高可靠性及缺陷分析有重大意義,新工藝的開發涉及新材料開發和應用、工藝過程控制技術、新的組裝技術等。新技術的開發工作及開銷不可能由單一部門完全承擔下來,不可避免地要求許多領域部門或企業的聯合開發,終成果共享,促進行業的技術進步。
                在可靠性和缺陷分析范疇,實驗人員和設備的幫助更是價值不菲的,研究人員的經驗和智慧,再加上現代化的實驗設備計算機化,得到的每一個實驗分析結果都凝結著人類的高度智慧和創造。
        2 實驗設備及儀器應用介紹
                根據上述述簡要分析,結合相關檢測技術和作用進行介紹。
                掃描電子顯微鏡SEM(Scanning Electron Microscope)
                該類儀器有兩種:常規場致發射SEM、帶有X光的能量色散譜儀(EDS)。
         主要作用:進行好的深場景、高倍光學分析,利用EDS還可以分板內部織成。
                典型應用:smt焊點可靠性缺陷檢查的顯微圖像分析,可以進行金相分析。
                聲掃描顯微鏡(Scanning acoustic microscope)
                進行物體無損、高倍率檢查。其典型應用是樣品器件底部填充空洞檢查、分析,特別是filp-chip器件。
                喇曼(Raman)圖像顯微鏡。
                固體表面特性分析,如厚、薄膜等,用于電子封裝用的聚合物的確認。
                傅利葉變換紅外分光計FTIR(Fourier transform infraredspectrometer)
                利用喇曼光譜分析學進行物體表面吸收的分子種類,用于無機物質分析,例如表面污染度檢測,
                光學顯微鏡
                高倍光學檢查,可500倍放大,用于樣品分析。
                高速攝影機
                運動過程捕獲及分析,典型的如filp-chip的填充過程分析。
                x光衍射儀
                亞微米厚度測量,如PCB或晶片上的鎳、金薄膜厚度的測量。
                計算機斷層成像X光檢查儀
                無損三維圖像檢查,如塑封、薄型金屬元器件,針對焊接缺陷特別有效,典型的如BGA器件焊點空洞、開路、短接,
         原子顯微鏡(Atomic force microscope)
                用于納米級薄膜厚度、表面形狀繪制、粗糙度測量,典型應用為PCB上的有機阻焊膜厚度及晶片上金屬膜厚度測量。
                帶局部環境的通用拉力測試儀
                附加環境控制條件的拉力測試,典型的如IC芯片、COB器件中的引線可靠性,PCB焊點應力特性。
         硬度測試儀
                基本上有三類:納米硬度測試儀、微波硬度測試儀、超聲微波硬度測試儀。用薄膜或微小物體的硬度測量,評價承受力和微小摩擦力等。例如flip-chip金屬襯板承受力、硅芯片上的金、銀端頭、器件引線拉力等。
         表面角度計
                焊點外形傾角測量,主要用于PCB、器件的潤濕度衡量。
                聚合材料熱特性測試儀
                可大致分為三類:差式掃描熱量計DSC(Differential scanning calorimeter)、熱力學機械分析儀(Thermal mechanical analyser)、機械沖擊熱分析儀(Dynamic mechanical thermal analyser)。主要用于PCB玻璃介質、封裝材料和阻焊膜的傳導特性測試:評價PCB基板、IC封裝材料的彈性及松弛度。
                同步熱分析儀
                主要進行物質的溫度和氧化穩定程度,確定混合物成份,具體如IC的封裝材料熱穩定特性評價。
        表面張力旋轉流速計
               主要進行聚合物的流變特性,具體是針對填充物質,如環氧樹脂(epoxy)、密封劑(sealant)、密封膠材料等(encapsulant)。
          3 結束語
                新加坡南洋理工大學的GINTIC研究所該類實驗室的配置水平很高,其研究項目的設立、檢測設備、儀器投資大多來自于大財團、大企業的支持、贊助或損贈,研究成果可以馬上用于smt生產,成果轉化效率很高,同時也增強了研究所的基本手段和保持了技術上領先的高水平。這種聯合立項、投資、開發研究,成果共享的形式很值得我smt企業、研究部門的深思。

        來源:SMT先進研究分析手段

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